专利名称：多脉冲干涉Ramsey－CPT条纹的制备方法及装置专利类型：发明专利
发明人：张奕,云恩学,邓威,赵劼成,顾思洪申请号：CN200910063271.0申请日：20090721公开号：CN101656537A公开日：20100224
摘要：本发明公开了一种多脉冲干涉Ramsey－CPT条纹的制备方法及装置，其步骤是：A.将直流电流和微波耦合进激光管；B.扫描直流得到多个多普勒吸收峰，将直流电流固定在最大峰对应电流；C.同步控制微波源扫描、2FSK调制，并控制光通断；D.采集信号，数字解调。其装置是：精密电流源、微波源分别与Bias－Tee相连，Bias－Tee、温控A分别与VCSEL相连，光路中依次有光衰减片、AOM、Rb原子蒸汽泡、光电池。AOM与AOM驱动相连。Rb原子蒸汽泡外面是C场线圈和磁屏蔽，温控B与Rb原子蒸汽泡相连，光电池、PC分别与电流电压转换电路相连，FPGA分别与微波源、AOM驱动、PC、晶振相连。该条纹比一般的双脉冲干涉Ramsey－CPT条纹的谱线宽度更窄，对比度更高，可应用于制造高性能的原子频标。
申请人：中国科学院武汉物理与数学研究所
地址：430071 湖北省武汉市武昌小洪山
国籍：CN
代理机构：武汉宇晨专利事务所
代理人：王敏锋
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