专利名称：质量分析装置以及离子检测装置专利类型：发明专利发明人：西口克
申请号：CN201680090255.9申请日：20161024公开号：CN109952629A公开日：20190628
摘要：平板状的聚焦电极(8)配置为将离子导入至后段的真空室的加热毛细管(9)的入口端(9a)插通开口部(8a)，平板状的反射电极(7)配置在隔着从离子化探针(5)喷出的喷雾流而与聚焦电极(8)对置的位置。此外，接地的辅助电极(6)配置在离子化探针(5)与反射电极(7)及聚焦电极(8)之间。加热毛细管(9)接地，在正离子测量时，对反射电极(7)以及聚焦电极(8)施加V1>V2>0的电压V1以及V2。在反射电极(7)与聚焦电极(8)之间的空间形成使随着喷雾流行进的源自试样成分反射以及偏向的反射电场，在入口端(9a)附近形成将离子聚焦至该入口端(9a)的聚焦电场。
申请人：株式会社岛津制作所
地址：日本国京都府
国籍：JP
代理机构：上海立群专利代理事务所(普通合伙)
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