专利名称：多参数下肢脚型测量仪专利类型：实用新型专利发明人：杜少勋,何路,肖苓,王欣申请号：CN201220015043.3申请日：20120113公开号：CN202436275U公开日：20120919
摘要：本实用新型公开了一种多参数下肢脚型测量仪，包括测量踏板和围度测量装置；测量踏板上沿其左右方向设有第一条形凹槽，第一条形凹槽内安装有第一滑道；围度测量装置包括用于固定皮尺的皮尺固定座、弹簧和滑块，滑块的中心设有一个通孔，且滑动设置在第一滑道内，皮尺固定座的底面上设有竖直螺杆，弹簧套装在竖直螺杆上，竖直螺杆插装在滑块上的通孔内。本实用新型在测量踏板的顶面上滑动设置有围度测量装置，在测量过程中，围度测量装置可以根据需要在第一滑道内左右滑动，从而测量出脚部任何部位的围度，以及第一至第五跖趾部位的围度和宽度，为测试者的脚部提供更全面的多种参数，以便准确地研发和选择合适的鞋子。
申请人：温州职业技术学院
地址：325000 浙江省温州市瓯海区茶山高教园区温州职业技术学院
国籍：CN
代理机构：北京捷诚信通专利事务所(普通合伙)
代理人：王卫东
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